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XF-R 400-1磁场探头 因较大的直径（25mm）而拥有很高的灵敏度，允许在10cm以内的距离测量模块和设备。 |
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XF-R 3-1型近场探头： 用于高分辨率直接检测组件上，譬如IC的引脚或外壳、布线、旁路电容器和电磁兼容性（EMC）元件等区域的射频磁场。 |
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XF-B 3-1型磁场探头的测量线圈相对垂直于探头柄。当探头竖直放置到电路板上时，其测量线圈直接平放在电路板的表面上。由此就能够测量到印刷电路板表面上很难达到的一些位置，如开关调节器的大元件之间的位置。 |
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XF-E 10型电场探头底面的电极仅有约0.2mm宽，用于定位最小的电场，例如0.1mm宽的导线、高针数集成电路的单个引脚等发射的电场。测试时将该电场探头放置在受测物体上。 |
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XF-U 2.5-1型磁场探头是一个近场探头，用于选择性测量导线、SMD组件和IC引脚中的高频电流。这个探头有一个大约0.5mm宽的磁场敏感缺口，测量时将这个缺口放在布线、IC或者电容器的连接点上。 |
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