其中主要测试方法包括:
北美的汽车工程协会(SAE)建议的使用TEM小室测量集成电路的辐射发射
SAE提出的磁场探头和电场探头表面扫描测量集成电路的辐射发射
荷兰某公司建议的使用工作台法拉第笼(WBFC)进行集成电路传导发射测量
德国标准化组织VDE建议的使用1Ω电阻进行地回路传导电流测量
日本的研究人员建议的使用磁场探头进行传导发射测量
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IEC/TC47标委会专门对各种测试方法进行分析,最终制定了针对集成电路的EMI和EMS的测试标准,即IEC 61967系列和IEC 62132系列标准,以及标准IEC 62215等,与IEC 62132互补,更加全面地考虑到了集成电路遭受电磁干扰时的情形。
随着电磁环境的日益复杂, EMC问题变得越发重要, 解决EMC问题, 首先就得从集成电路的EMC设计和检测开始, 才能获得更有效的解决方案。